從晶圓測試到系統級測試 精測打通全流程介面商機 智慧應用 影音
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從晶圓測試到系統級測試 精測打通全流程介面商機

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    王嘉瑜台北

中華精測在SEMICON Taiwan 2026中,展出多款針對AI晶片與高效運算(HPC)需求,所開發的測試介面解決方案,包括AI探針卡、記憶體探針卡、高腳數探針卡,以及AI ASIC使用之高功率老化測試板(Burn-in Board)等關鍵產品。

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議題精選-SEMICON Taiwan 2026