愛德萬攜手東京精密 共同開發晶粒級針測機 智慧應用 影音
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愛德萬攜手東京精密 共同開發晶粒級針測機

  • 王嘉瑜台北

半導體測試設備供應商愛德萬測試(Advantest)與東京精密(Tokyo Seimitsu)近日共同宣布,雙方將合作開發最新晶粒級(die-level)針測機,用於高效運算(HPC)元件的測試需求。 愛德萬指出,伺服器所使用...

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