科技1分鐘：金屬原子遷移（Electromigration）
- 林廷宇
金屬原子遷移（Electromigration；EM）是一種電子流引發的金屬微觀變形現象。在高電流密度環境下，自由電子不斷碰撞金屬原子，將動量傳遞給原子，使其沿電子流方向移動，導致金屬線路局部變薄形成空洞或堆積成金屬突起，最終可能引發電路斷路或短路。
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