迎戰尖端製程複雜IC設計任務 西門子EDA打造高效智慧化驗證解方
隨著半導體製程持續朝奈米以下節點進展,以及結合先進封裝技術的2.5D/3D IC應用越來越廣泛,在緊迫的上市時程內完成複雜度日益升高的晶片設計任務,成為IC設計業工程師面臨的一大難題;為此Siemens EDA日前在新竹舉辦了一場技術研討會,詳細介紹了Siemens EDA最新實體設計與驗證技術,讓現場聽眾深入了解到能有效克服複雜IC設計挑戰,同時提升工作效率、實現創新的解決方案。
在Siemens EDA提出的解決方案中,「左移」(Shift Left)策略是一大重點,強調在IC設計早期階段進行快速、準確的簽核驗證與最佳化,以提前發現並解決設計問題,並為工程師提供更多時間進行布局最佳化,提升設計品質與產量。
著眼先進製程晶片實體設計階段越來越不可忽視的EMIR(Electromigration and IR Drop)分析,Siemens EDA首先詳細介紹Calibre DesignEnhancer 電路布局最佳自動化解決方案,能為布局與繞線(P&R)設計團隊在實體驗證流程提供高效率的整合環境,不僅能有效協助工程師解決在EMIR分析中發現的問題,確保晶片簽核品質並縮短上市時程,也能在晶片性能、功耗和面積(PPA)指標之間取得最佳平衡,顯著提升設計的可靠性。
此外,Siemens EDA的mPower電源完整性分析工具,能支援類比、數位與混合訊號設計從最小功能區塊到完整晶片布局的分析,也適用2.5D/3D IC 設計;mPower擁有高度可擴展性與易用的圖形化介面(GUI),能讓工程師輕鬆將電源完整性分析整合到現有工作流程中,確保功耗目標與效能。
因應複雜SoC設計日益嚴苛的功耗要求,Siemens EDA則有RTL-to-GDSII流程工具Aprisa,可提供完整的合成(Synthesis)與P&R功能,並與靜態時序分析(STA)工具和設計規則檢查(DRC)簽核工具相關聯,確保在設計早期階段就精準預測PPA表現,以減少設計收斂時間。
Aprisa 的「功耗優先(Power-First)」設計策略,是優先對功耗進行最佳化後再調整時序與面積,幫助設計團隊在PPA之間取得最佳平衡,以避免過度設計與資源浪費。
Calibre的「Shift Left」概念工具套件還包括Calibre Real-Time Digital/ Custom DRC平台,分別支援數位設計與客製化/類比混合訊號設計流程的即時檢查與修正,透過即時回饋違規訊息與修正建議,提升設計速度與晶片品質。
此外Calibre nmDRC Recon技術能簡化DRC運作流程,快速定位問題根源、提升除錯效率;nmLVS Recon電路驗證技術則能快速檢查未完成/不完整的功能區塊或整體晶片設計,提前發現並修復高影響性的電路布局驗證(LVS)違規,縮短設計週期並提高驗證效率。
面對2.5D與3D IC設計帶來的挑戰,Siemens EDA整合Innovator3D IC平台與xPD工具,提供高效率設計管理與早期驗證方案,簡化複雜封裝的佈局流程並提升設計效率。在驗證階段,Calibre 3DStack 技術提供封裝層級(assembly-level)的DRC、LVS和 PEX驗證,確保多晶片封裝中的精確對位與電性完整性,並能無縫結合傳統封裝工具,適應各類系統設計需求。
而考量到晶片設計進入大規模驗證階段時常遭遇的效率瓶頸,Siemens EDA的Calibre MTFlex技術能藉由乙太網路連線,結合多台伺服器支援平行資料處理,以縮短驗證總花費時間,為設計團隊提供了更高的靈活性與效率。在技術研討會最後Siemens EDA並邀請到合作夥伴聯詠(Novatek)分享實際使用該技術縮短產品上市時程的成功案例。
展望未來實體設計與驗證技術的發展,Siemens EDA的Calibre應用工程部經理部耀宗則表示,人工智慧(AI)技術正在成為協助IC設計工程師突破瓶頸的重要工具,目前公司也已將AI融入其驗證與設計最佳化工具,例如使用機器學習並搭配MTFlex Solution 將Calibre DRC/PERC可能需要數天甚至一週才能完整跑完的驗證,透過AI的自動化功能,能在短短一夜之間或數小時內完成來提升工作效率加速tapeout時程。
此外他指出,AI能夠自動分類與分析數百萬條DRC違反紀錄,協助工程師迅速鎖定問題來源,並提供最佳解決方案:「如此工程師能有更多時間專注於核心任務、思考創新,而非被困在繁瑣的驗證階段,這對科技進步是非常大的助益。」
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