AI時代測試新革命—台積電、日月光、美超微、鴻海重磅大師齊聚對談！

半導體與電子技術快速發展，測試技術的提升至關重要。DIGITIMES攜手NI 國家儀器 、優立測科技舉辦創新測試論壇，匯聚產業專家與技術領袖，探討最新電子測量技術，整合全流程測試自動化數據，掌握產品開發、驗證、量產關鍵環節。

本次論壇將由NI全球副總帶來主題演講揭開序幕，接著針對當前市場關注的智能測試創新進行對談探討，特別邀請全球半導體製造龍頭、電子製造巨擘與深耕智能測試軟體領域的產業專家，分享前瞻策略與創新思維，探討AI在製造與測試領域的創新應用與實務經驗，勾勒測試技術發展與應用藍圖。

下午的NI Test Forum三大主題論壇同樣精彩可期，精心規劃了一系列兼具廣度與深度的豐富議程，涵蓋最新測試軟硬體資訊、先進應用測試主題如矽光子與HIL，以及多元使用者應用分享，必定讓您滿載而歸。報名即將截止，邀請您立即線上報名創新測試論壇。