思達科技再推出應用在WAT測試的3D/2.5D MEMS探針卡系列產品

思達科技推出新款MEMS微懸臂式探針卡。思達科技

半導體測試探針卡領導供應商 – 思達科技，宣布推出應用在WAT（晶圓驗收）測試的新款3D/2.5D MEMS微懸臂式探針卡系列產品。處女座Virgo-Prima系列呈現探針卡應用、製造，以及量測的融合能力。透過優化的設計和結構，MEMS探針卡系列提供產業界客戶，最佳的晶圓級參數和可靠度測試介面解決方案。

為滿足高效能運算（HPC）和高容量資料分析不斷成長的需求，探針卡製造商持續專注在先進探針的研發，而MEMS探針技術已被視為關鍵的競爭因素。在推出3D/2.5D MEMS微懸臂式WAT探針卡之後，思達在MEMS探針卡的設計上，呈現更多的創新，以符合電性量測的測試需求，並達到更高的生產良率。

思達處女座Virgo-Prima系列MEMS探針卡，支援從室溫到150℃寬溫度範圍的量測，應用涵蓋產業的測試要求，如HCI、NBTI、TDDB、EM，和RF射頻訊號完整性等。除了支援Keysight 4070/4080系列參數測試儀外，思達也推出了應用在產業界大多數特性驗證測試儀器，如Keysight MPPT、P9002A等的WAT MEMS探針卡。這款探針卡系列產品，具備可更換的測試頭，可對應於不同的PCB設計，減少對準時間且維持測試儀的可利用性。

思達科技執行長暨技術長劉俊良博士表示：「隨著更多元的產業應用和混合式元件變得普遍，對半導體製造商來說，WAT測試是日益重要的程序。探針卡作為測試介面，不僅是高單價的消耗品，也必須確保分析結果是可信賴的。思達處女座Virgo MEMS探針卡系列產品，是專為市場趨勢而設計，是製造商未來的開發上，最佳的探測解決方案。」