愛德萬測試推出MTe 統一且可擴充的功率半導體測試平台

全球領先的半導體測試設備供應商愛德萬測試（Advantest Corporation）近日隆重推出MTe功率測試平台，以最先進的技術重新定義測試效率與可擴充性，以滿足快速成長的功率半導體市場之測試需求。

隨著汽車、工業、再生能源、電信及資料基礎設施等應用領域的電動化需求持續上升，半導體製造商正致力於實現更高性能與更低的測試成本（CoT）。MTe平台透過模組化硬體架構、極致的系統可擴展性以及先進的數位控制，全面回應業界需求，重新定義功率半導體測試的效能與效率標準。

愛德萬測試集團旗下CREA公司總經理Fabio Marino指出：「MTe的設計理念體現了我們的願景—藉由具備可擴展性、彈性與永續性，讓測試變得更簡單。我們為客戶提供一套統一的測試解決方案，這套方案可隨生產需求而演進，協助客戶從研發階段到量產階段無縫接軌，確保最高的效能與可靠性。」

MTe平台採用愛德萬測試最先進技術打造，在不犧牲效能的前提下大幅縮小設備佔地並最佳化資源分配，這也是吸引主要IDM與OSAT廠商導入的關鍵優勢。MTe平台不僅能應對新興寬能隙半導體（譬如SiC與GaN） 的測試挑戰，更能實現數位IP核心於功率元件（譬如IPM與IPD）的整合，提供高頻寬擷取、業界頂尖的閘極驅動器控制、高達10kA的動態（及短路）測試能力，以及靈活的高壓數位功能。

秉持愛德萬測試提供可擴充測試平台的傳統，MTe採用分散式運算架構，可大幅提升多站點測試效率，實現高並行測試解決方案並優化整體產出率。MTe平台現已於全球上市，經汽車及工業功率應用領域客戶初步評價，相較於傳統測試設備，MTe在生產力與測試吞吐量方面皆有顯著提升。